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FLIR热像仪在新一代硅光子光网络的应用


时间:2017-07-20 作者:FLIR
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 仪商导读:目前,电子通信发展迅速,对技术、装置等方面也提出了更高的要求。设备制造商也在不断寻求新的方案,尤其是在热管理方面将面临更多的挑战和压力,因此,需要通过一款靠谱的热像仪,随时监控变化,获取高质量的热像图。


爱尔兰科克郡Tyndall国家研究所目前正在探寻高性能光电子器件的组建方案。研究所特别研究小组利用热显微镜系统中的FLIR制冷型中波热成像仪,清晰地呈现了新一代无源光网络的硅光子光网络单元(ONU)图像。

新一代无源光网络(PON)

Tyndall光电子封装小组研究经理Dr.LeeCarroll表示:“过去的十年见证了硅光子从出现到成为新一代信息通信技术应用媒介的发展过程。采用面对面叠加法(3D集成)在硅光子集成电路(Si-PIC)顶部安装驱动器电子集成电路是一种基于光电子平台实现高速电子解调与高效分配的实用方案。

Tyndall研究院目前正在研发用于高速家用光纤网络连接的新一代无源光网络(PON)演示模块。Si-PICPON的核心,它负责在编码额外信息之后以及反射光信号之前接收输入光信号(下载)相关信息。

在该装置中,连接于Si-PIC顶部的电子集成电路能够精确分配驱动光子芯片中光调制器所需的电子定时信号。


硅光子芯片EICSI-PIC的温度测量(复合热图像)

高频定时信号产生的热量会提高EICSi-PIC的温度,进而严重影响光子芯片的性能和可靠性。

热性能研究

关键词:仪器仪表 测试测量 热像仪    浏览量:610

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