当前位置: 首页 » 行业聚焦 » 行业动态 » 正文

上海:二维半导体光电探测研究获突破


时间:2016-01-11 作者:五五
分享到:




 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室胡伟达、王建禄等研究人员在利用铁电聚合物极化对二维半导体带隙调控及其高性能光电探测方面取得新进展。相关成果发表在Advanced MaterialsAdvanced Materials 27, 65756581 (2015)DOI: 10.1002/adma.201503340)上,并被编辑选为期刊卷首(DOI: 10.1002/adma.201570283)。


近年来,二维半导体材料在光电探测领域的研究受到高度关注。基于场效应管结构,利用外置栅压耗尽二维半导体沟道的载流子,是该类光电器件实现高灵敏探测主要途径。胡伟达、王建禄等构建了铁电聚合物P(VDF-TrFE)替代传统氧化物的铁电场效应结构,利用铁电极化形成的内建电场耗尽沟道载流子,实现了低功耗、高可靠性、高灵敏光电探测器的制备(器件探测率达2.2×1012 Jones,λ=635nm)。此外,铁电极化形成的巨内建电场,可使得二维过渡金属硫属化合物表面重构,从而实现了对二维半导体能带结构的调控,进而延展了过渡金属硫属化合物二硫化钼光电探测波长,探测截至波长从850nm延伸至1550nm的短波红外。这项工作提供了利用铁电极化局域场操控二维材料能带结构及光电特性新方法,为推进二维材料在光电子器件及电子器件等领域的应用都具有重要意义。

该项工作得到了国家自然科学基金委、科技部和中科院的经费支持。


关键词:    浏览量:569

声明:凡本网注明"来源:仪商网"的所有作品,版权均属于仪商网,未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用,并注明"来源:仪商网"。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品,归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载,如有作品内容、版权以及其它问题的,请联系我们。相关合作、投稿、转载授权等事宜,请联系本网。
QQ:2268148259、3050252122。


让制造业不缺测试测量工程师

最新发布
行业动态
行业聚焦
国际资讯
仪商专题
按分类浏览
Copyright © 2023- 861718.com All rights reserved 版权所有 ©广州德禄讯信息科技有限公司
本站转载或引用文章涉及版权问题请与我们联系。电话:020-34224268 传真: 020-34113782

粤公网安备 44010502000033号

粤ICP备16022018号-4