仪器仪表商情网报道 美国国家仪器（National Instruments，简称NI）新推出无线测试系统(WTS)，一款可大幅降低批量无线生产测试成本的解决方案。 尽管面临日益增加的无线测试复杂性，企业仍可以借助经过测量速度优化和具有并行测试功能的系统来降低测试成本，数倍提高生产车间的生产能力。
“物联网（IoT）等大趋势将驱动更多的设备融合射频和传感器功能，过去此类设备的测试成本极其昂贵。 但是测试成本不应成为工程师创新或产品具备经济可行性的绊脚石，”Frost & Sullivan公司的测量和仪器项目经理Olga Shapiro表示， “为了维持未来的盈利能力，企业需要重新思考其无线测试方法，采用新的模式。 由于WTS是使用经业界验证的PXI平台开发的，而且受到NI的专业技术支持，我们预期该系统将对物联网产生重大的商业影响。”
WTS结合了最新的PXI硬件，为多标准、多DUT和多端口测试提供了一个统一平台。 该系统结合TestStand无线测试模块等灵活的测试序列生成软件，可帮助制造商大幅提高并行测试多个设备时的仪器利用效率。 WTS可轻松集成到生产线中，提供了可立即运行的测试序列来测试采用Qualcomm和Broadcom芯片的设备、集成式DUT和远程自动化控制。 借助这些特性，用户将可明显看到其RF测试设备的效率大幅提升，从而进一步降低了测试成本。
“使用NI无线测试系统，我们可以在同一个设备上测试多种无线技术，包括蓝牙、WIFI、GPS和蜂窝。”HARMAN/Becker汽车系统公司的Markus Krauss表示， “WTS和NOFFZ的RF测试工程专业知识帮助我们显着减少了测试时间以及快速安装和运行测试系统。”
WTS是NI基于PXI硬件和LabVIEW以及TestStand软件开发的最新系统（2014年发布了半导体测试系统）。 WTS可支持LTE Advanced、802.11ac和蓝牙LE等无线标准，专用于WLAN接入点、手机、信息娱乐系统和其他包含蜂窝、无线连接和导航标准等多标准设备的生产测试。 WTS内采用的软件设计的PXI矢量信号收发仪技术为制造工业提供了出色的射频性能以及可随射频测试需求变化而调整的平台。
