讲座内容简介
微波芯片主要包括微波功率放大、低噪声放大、混频变频、开关、滤波等单片或MMIC芯片。芯片的在片（On-Wafer）测试是芯片设计和应用环节的重要步骤。
随着国内芯片需求扩大和第三代半导体技术的蓬勃发展，芯片的高频、大信号、超宽带、高线性等性能要求逐渐提高，尤其在芯片设计环节，准确的测试数据是突破上述技术的瓶颈问题之一。目前，微波芯片测试诸多难题正困扰着一线技术人员：在片测试系统平台框架与仪器设备的互相兼容性不高、集成后的系统测试效率难以再提升、提高测试的关键技术难以突破……
电科思仪聚焦问题的解决而推出成熟的微波芯片在片测试解决方案。讲座重点针对微波芯片设计环节，介绍解决方案组成和新一代核心仪器，同时分享典型的解决方案应用案例。敬请期待！
讲座嘉宾
杨保国
研究员、博士、微波毫米波矢量网络分析仪器测试专家
讲座时间
2022年11月11日（周五） 15：00-16：00
讲座预约
活动三重“福利”
1.幸运观众奖：讲座中抽取幸运观众10位。
2.最佳互动奖：讲座中最佳互动观众5位。
