NI（已正式成为艾默生一员，现作为艾默生旗下新的测试与测量业务集团运营）近日宣布了一项新计划，利用NI Global Operations（GO，前身为Optimal+）平台在边缘侧提供实时的半导体分析解决方案。这种更新水平的基础设施和控制能力为平台用户、NI自身、乃至第三方人员开发更先进和更定制化的应用程序打开了大门。此次发布的亮点是NI GO生态系统中的新支持层以及开始与领先ATE供应商泰瑞达（Teradyne）的合作。
OptimalPlus GO
对半导体测试操作的质量、良率、吞吐量和功能需求的不断提高激发了工程师对开发更好、响应更快的测试控制的兴趣。为了解决这个问题，新的NI全球运营实时应用支持层（NI Global Operations Real-time Application Enablement Layer ）将现有的GO平台功能扩展到安全、低延迟的测试服务器，以便分析模型可以与测试执行同时运行。
NI副总裁兼测试与分析软件总经理Rudy Sengupta补充道：“半导体行业的所有趋势都表明需要更加重视测试。为了跟上步伐，我们的客户需要更快地做出测试决策，这就意味着与测试本身的节奏要保持一致。为了实现这一点，我们了解生态系统协作的价值，并将我们新的实时支持层和ATE合作伙伴关系视为价值的关键转折点，我们可以从测试分析中得到验证。”
新的支持层通过添加对ATE测试平台的集成支持，进一步提升了NI GO的开放架构和强大的分析能力。他们的本地数据、安全性和通信协议与NI GO后端分析相结合，为半导体测试中的实时控制创建了完整且值得信赖的解决方案。从和泰瑞达的合作开始，意味着他们的测试人员将能够使用这些新功能。此外，开放式架构将在未来允许支持所有ATE供应商和平台，更多计划即将发布。
通过直接与ATE供应商合作，NI可以确保围绕这些联合解决方案提供长期支持、协作和创新。这些关系旨在实现一种组合的集成架构，可以更好地利用ATE服务器，为半导体测试优化提供新的可能性。ATE供应商增加投资，通过安全、集成的边缘侧解决方案支持他们的测试平台，现在这一切成为了可能。
泰瑞达Teradyne Archimedes分析解决方案将数据分析、人工智能和机器学习等技术集成到测试解决方案中。其开放式架构支持领先的分析解决方案模型，并支持安全的实时数据流，对测试时间的影响几乎为零，从而提高质量、提高产量并减少测试仪的停机时间。
泰瑞达半导体测试营销副总裁Regan Mills表示：“泰瑞达很高兴与NI合作，支持其GO平台上的高级分析。先进的学习模型与安全、真实的数据相结合，对于提供高质量的终端产品和支持新兴技术至关重要。NI的Go平台和泰瑞达的Archimedes提供了端到端解决方案，可在安全且受保护的环境中提供实时数据的全生命周期管理。”
作为泰瑞达Archimedes生态系统的一员，NI GO分析模型和应用程序获得了比以往任何时候都更接近测试活动的可用计算资源，这意味着可以在测试执行期间触发数据驱动的操作和控制。此外，这些模型受益于ATE服务器本机的安全协议，这意味着所有数据和IP都得到充分保护。因此，现有的解决方案，例如Re-binning或DPAT，可以更具实时影响力，同时也为下一代解决方案和从未被认为可能的DIY解决方案（例如漂移检测）打开了大门。
NI的这一发展不仅仅是对近期半导体测试和数据分析生态系统变化的贡献。它完成了从测试仪、到边缘端、到云端、再返回的整个分析流程。这意味着基于ATE的实时模型不是孤立的或停滞的。它们由一个更大的数据分析生态系统提供动力，将所以测试人员和测试层（内部和外部）连接到一个单一的大数据实例，允许更深入的学习以获得更具影响力、不断更新的洞察。此外，GO边缘服务器充当模型和应用程序管理中心，以确保实时模型得到有效部署、更新、跟踪和停产。
通过将实时控制与完整的自适应分析后端相结合，NI GO + ATE解决方案旨在成为市场上最具影响力的测试控制功能。
