作者在论文中提到，类似供体的边界陷阱也会影响背照式CMOS图像传感器的长期性能。TDDB和NBTI是对器件寿命的评估方式。与预期相同，边界陷阱对两种评估方式的作用不同，但是无论如何，相对前照式CMOS图像传感器，背照式CMOS图像传感器可靠性都会下降。
作者在论文中提到，类似供体的边界陷阱也会影响背照式CMOS图像传感器的长期性能。TDDB和NBTI是对器件寿命的评估方式。与预期相同，边界陷阱对两种评估方式的作用不同，但是无论如何，相对前照式CMOS图像传感器，背照式CMOS图像传感器可靠性都会下降。
关键词:CMOS图像传感器 FSI BSI 优劣 浏览量：1226
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