零位稳定
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零，仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。
无需校准
多数测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。
温度补偿
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
测厚仪的影响因素
基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量，
曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一次量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗糙时更应如此
表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及鹰蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
磁场
周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。
测头取向
测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。
