将四个引脚组中的任何一个从当前模式切换到自动序列,存储序列或高阻抗
根据编程的自动序列算法，在自动序列模式下更改引脚组中的驱动器状态
根据编程的存储顺序，在存储序列模式下更改引脚组中驱动程序的状态
启用或禁用所有接收器
执行下表中定义的存储序列的操作码
图4：存储序列的操作码
3050B数字子系统更换
替换3050B的数字子系统为Marvin的6U PXI GX5055数字I / O卡，该板卡可以提供32个数字I / O通道和更宽驱动/检测电压范围（-14 V至+25 V）。为了容纳240个引脚，该子系统将包含（8）GX5055数字I / O卡，安装在GX7005高功率PXI机箱中。该数字子系统可以工作在50 MHz，具有可编程压摆率，有助于匹配3050B的驱动器性能特性。此外，子系统还具有每引脚和每个测试步进方向控制以及可编程的每个引脚驱动/检测电平。所有这些功能都提供了灵活性，便于将3050B测试程序适配/迁移到所提出的数字子系统。如上文所述，3050B支持多种测试模式，包括比较和签名模式的pass/fail测试。 下面详细介绍了基于GX5055数字子系统的功能和差异：
签名模式，仅pass/fail。签名模式的使用需要计算来自UUT的获取数据的CRC，然后与已知的良好设备的CRC进行比较。GX5055不支持CRC计算，因此需要在系统控制器（PC）采集后完成，不过这就要求CRC计算方法已知。
如果可以从已知的良好UUT获得刺激/响应矢量，则可以支持比较模式。已知的良好测试向量将应用于UUT，响应将由GX5055的内存捕获。在采集后，将来自UUT的采集的矢量与已知的良好矢量进行比较。GX5055的功能库包括支持此比较功能的函数。请注意，尽管3050B仅支持2K向量，但序列长度可能高达40M。GX5055支持最长512K的序列长度，因此对于长序列（> 512K），测试和比较过程需要分成多个序列。
概念子系统没有规定将引导探针算法用于故障诊断。探针可以连接到备用DIO通道，但探针算法的开发将由最终用户负责。
GX5055数字子系统与支持存储序列模式最为一致。GX5055的矢量深度为2K vectors，远大于3050B。但是，GX5055的序列深度限制为512K。 3050B支持40M的序列。 GX5055的操作码非常类似于3050B，这有助于重新托管存储序列。对于大序列，需要加载多个序列并将其作为多个突发执行。
采用GX5055数字子系统进行3050B更换 - 注意事项
GX5055子系统（图5）可以提供3050B支持的基本数字测试功能。
图5：GX7005机箱和数字子系统
作为此替换解决方案的一部分，需要考虑的其他问题包括：
夹具：需要构建适配器以使3050B的连接器适配器/测试接口适应GX5055的I / O连接器。或者，需要构建新的固定装置/布线。Marvin为GX5055数字子系统提供了由Virginia Panel和Mac Panel提供的多种不同质量终端接口。
