简介
本文提供了使用基于PXI的Marvin数字子系统替换Trendar / Fluke 3050B数字子系统的方法。该方法仅针对Fluke 3050B的数字测试功能的一部分，参考文档基于1983年2月的3050B数字/模拟测试系统手册（Rev. 1,2 / 8）获得的信息。
背景
Fluke 3050B测试系统为PCBA提供自动数字和模拟的功能测试。通过连接器适配器与UUT连接，该连接器适配器连接到（4）156针ZIF连接器。图1为系统图片。
图1：Fluke 3050B系统
3050B具有两种pass/fail测试模式 - 比较模式和签名模式。比较模式通过比较已确定为良好的UUT和被测UUT之间的数字刺激响应来实现；将I/O引脚状态，电路板的IC夹具和逻辑探针逐步进行比较。签名模式仅使用单个板，并且通过将UUT的I/O引脚生成的CRC（循环冗余校验）签名与先前测试的已知良好板的签名进行比较，实现pass/fail决策。
3050B还包括使用称为ADS环境进行故障诊断，该环境是一种引导探测算法，可以根据UUT原理图，拓扑和组件进行故障诊断。ADS执行诊断所需的输入包括：
IC类型和位置文件
IC类型定义文件
优先级节点文件（可选）
从 - 到互连文件
板边优先文件（可选）
标签文件（用于文档）
3050B提供了两个探测器，用于监视/比较UUT上的节点。探头逻辑阈值可选择1 V，2 V，5 V，7 V或可变（-10至+10 V）。IC夹（16针）的使用具有类似的特性，可变范围为0至+10V
3050B数字子系统的主要功能总结如下：
最多240个I / O引脚，以32引脚为增量; 基本配置是64针
低电平驱动器输出小于或等于0.7 V @ 10 mA
高电平驱动器输出可通过连接器适配器中的跳线,进行编程选择（输出范围见图2）
驱动器测试速率：1 MHz，（某些模式下为2 MHz）
接收器阈值范围：基于驱动器电压电平的1.8 V至3.5 V（见图3）
存储序列：最多2048 bits
测试长度：可编程为20K，40K，100K，200K，400K，1M，2M，4M，10M，20M，40M
测试仪时钟频率：可编程为1 Hz至9.99 MHz的3位数字
图2：输出驱动器范围
图3：接收器阈值范围
序列执行包括以下功能：
