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使用同步检测进行精密低电平测量


时间:2017-02-21 作者:Luis Orozco
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数字锁相环会生成锁定为激励信号(可以是外部信号或FPGA内部生成的信号,并且不必是正弦波)的正弦波。参考正弦波中的任何谐波也将与输入信号相乘,将谐波频率中存在的噪声和其他无用的信号解调,正如两个方波相乘的情况(见图5)。以数字方式生成此参考正弦波的一个优势是,这样只需调整数字精度,即可相对轻松地生成失真度极低的信号。例如,图12展示了四个使用481632位精度以数字方式生成的正弦波。显然,使用4位精度所获得的性能与图5中的情况差别不大,但是该情况会在使用更高精度数字后很快得以改善。在16位精度条件下,需要付出一些努力才能生成具有如此低总谐波失真(THD)的模拟信号,在32位精度时THD超过–200 dB,这是不可能与模拟电路相匹配的。此外,由于这些是以数字方式生成的信号,因此它们可以很好地重复。将数据转换到数字域并输入FPGA后,就无需考虑其他噪声或漂移。

在乘法器后,低通滤波器将除去任何高频成分并输出信号的同相和正交组分。继续假定滤波器的等效噪声带宽仅为50 Hz,没有理由按原始采样速率250 kSPS传输数据。低通滤波器可包括抽取滤波器级,以降低输出数据速率。该流程的最后一步是计算输入信号同相和正交组分的幅度和相位。


12. 使用不同的数字精度以数字方式生成正弦波

小结

嵌入噪底的低频小信号难以测量,但是应用调制和锁定放大器技术可以获得高精度的测量。最简单的锁定放大器可以是在两个增益之间切换的运算放大器。虽然这不会带来最好的噪声性能,但是与简单的直流测量相比,简单的低成本电路仍然非常具有吸引力。此电路的一项改进是使用正弦波参考和乘法器,但是在模拟域中实现会比较难。为获得终极性能,可考虑使用低噪声、高分辨率的Σ-Δ ADC(例如AD7175-2),以便将输入信号数字化,然后生成参考正弦波以及数字域中锁定放大器的所有其他要素。

关键词:仪器仪表 测试测量 同步检测 低电平测量    浏览量:525

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