基于PLL技术的频率综合器应用极其广泛，无论是通信还是雷达系统中，PLL频综都是必不可少的。因为PLL频综具有非常高的频率稳定度，相噪性能非常优异，这些都是保证通信和雷达系统性能的重要因素。PLL是一个负反馈控制系统，图5给出了简要架构示意图，从闭环传输特性看，PLL具有一定的环路带 宽，这主要取决于环路上的低通滤波器——Loop filter。环路带宽不仅决定了输出信号的相噪性能，而且也决定了PLL锁定的速度。相噪性能和锁定速度是PLL频综开发工程师必须要折中考虑的两个参数，因此在调试阶段也是必测的两个参数。
图5. PLL频率综合器架构示意图
对于锁定时间的测试，传统测试方法是直接将PLL输出的射频信号馈入频谱仪，然后在zero span模式下设置触发观测射频信号的包络。但是这种方式有两个缺点：
① 以触发位置为时间参考点，而PLL在触发时刻之前已经开始工作，无法准确标定锁定时间；
② 由于这种方法是从包络上判定是否锁定完成，测试误差会很大。因为信号的包络与频谱仪设置的RBW关系很大，存在这样的情况——即使频率没有完全锁定，但是信号依然可以完全通过RBW filter，从而得到正常的包络信号。此时，标定的锁定时间会偏小，而不能正确反映PLL的性能。
使用Spectrum View的瞬态分析功能可以轻而易举地解决这个问题，测试连接如图6所示，待测PLL电路除了将射频输出连接至示波器之外，同时提供一路同步触发信号，以此作为时间基准。在瞬态分析模式下，调出Frequency_vs_Time波形，当频率锁定后，接近一条直线，观测在哪个时刻频率锁定成功 (比如，定义频率误差在标称频率的±5%以内即认为锁定成功)，从而准确测试锁定时间。
图6. PLL频率锁定时间测试连接示意图
图7. PLL频率锁定时间实测结果
(3) 射频开关切换时间测试
作为射频电路中常用的器件，开关通常用于多个射频链路之间的切换，从而实现分时工作。比如智能手机基本都支持多种无线通信制式，各种制式之间的切换就是通过射频前端的开关实现的。这类射频开关为单刀多掷开关，通常除了关注开关的插损、隔离度、驻波比等参数外，还要关注开关的切换时间，以保证各个链路之间严格的时序关系。
如何测试开关的切换时间呢？图8给出了测试连接示意图，示波器是整个测试的核心设备，此外还需要一台信号源，用于给开关提供射频激励信号。测试过程中，信号源提供CW信号馈入开关，控制电路在控制开关切换的同时，也给示波器提供一路触发信号作为时间参考。为了准确测试切换时间，需要得到开关输出的射频信号的包络，在示波器侧通过比较外触发信号与包络信号之间的延迟，便可以确定切换时间。
示波器通常借助于外部的包络检波器测试信号包络，但是这会引入额外的时延，从而影响测试精度。相比之下，Spectrum View可以直接显示射频信号包络 (Magnitude_vs_Time)，测试更准确、应用更方便。
图8. 射频开关切换时间测试连接示意图
(4) 脉冲调制器上升时间测试
脉冲调制器是脉冲体制雷达系统中的关键部件，可经外部控制产生具有快速上升/下降沿及高开关比的射频脉冲信号。脉冲调制器往往采用单刀单掷射频开关实现，其决定了能够产生的射频脉冲的上升/下降时间及开关比。实际应用中，往往希望能够产生边沿尽量快的射频脉冲，这样才能够生成更窄的脉冲，提高距离分辨率。
值得一提的是，虽然射频开关可以当做脉冲调制器，但是其上升时间并不是前面介绍的切换时间。开关的切换时间受限于其控制电路的响应时间，而上升时间则取决于开关支持的带宽。
