你将可以获取到较为清晰的测试波形，上图中通道2为电流探头测量的电流波形，通道1为DUT输出端子上的电压波形。
打开示波器的平均采样模式，可以获得低噪声的瞬态响应测量曲线。
操作要点
如何对测试波形进行分析？
根据实际DUT测试，可能会存在左图测试波形（严重振铃的电压波形）
可见此测试中DUT的输出电压在跳变过程中存在非常大的振铃，此振荡频率通常在系统的开环传递函数在180°交越点所对应的频率附近。这也意味着系统的相位裕度很小，对此振荡频率的阻尼较弱。
通过调整电路参数，可见响应波形逐渐改善，直至最后为右图所示的响应波形，可见振荡被快速阻尼，恢复时间也较为合理。此时系统的相位裕度已经较大，可以满足电源设计的需要。
相位裕度（频域）和响应波形（时域）存在一定的相关性，在右图所示的测试波形中，相位裕度在50~60°左右，裕度较大。
如何对测试图中的一些其他特征进行判别？
1）直流电压台阶
在测试中可能会出现动态响应A/B值所对应的电压不一致的情况，如下图的红色箭头指示。此时应该检查电流负载端子（功率回路）和电压采样端子（采样回路）的连接点是否正确，如果连接正确，则说明此电源电路有相对较差的负载调整率，需要针对性地排查，如测量系统的开环增益是否足够大。
电压台阶
2)较大的电压跌落和过冲
在部分测试中，可能会观测到具有过大的电压过冲和跌落特征的波形，这种波形通常更容易出现在线性稳压电路中。
较大的电压跌落和过冲(示意图片)
分析：这种情况的原因通常指向电源的输出滤波电容，电容的容值选取和整个反馈环路特性严重失配、电容的ESR特性劣化/虚焊、布线不合理可能都会导致此现象。一般来说，线性电源器件对输出电容的容值要求更高。在负载电流迅速突变的情况下，如果输出滤波电容的容值过小，导致电压下降的速度远高于反馈电路控制调整管动作的速度，将会在加载电流时带来较大的电压跌落。反之，将会在卸载电流时带来较大的电压过冲。
部分电源系统可能需要驱动一些特定的负载装置，如MOSFET/IGBT驱动电路、闪光灯等装置，其主要的特点是存在较大的负载突变，其存在时间较短的大功率状态以及时间较长的空闲（低功率）状态。由于占空比(Duty Cycle)较低,因此其平均功率较低，在电源设计时，可能会存在电容容量选择不足的情况。对于这种电路，使用动态响应测试功能可以非常直观的观察到电压的变化，对设计会有很大的帮助。
总结
通过使用DL3000作为测试核心进行动态响应测试，可以快速地完成对电源产品的性能评估。
与动态响应测试类似的测试方式还有伯德图（Bode Plot.）测试，两者存在一定的差异——
可见动态响应测试更倾向于定性测试，由于测试非常方便，便于整合进入ATE测试工装中，因此非常适合在电源生产过程中进行在线测试。
由于DUT的类型较多，因此有必要根据实际需求选择合适的仪器以备测试使用：
