它包含以下几个指标：
训练样本集合的等错误率(EER)，也就是当真正用户被系统错误拒绝的百分比(FRR)等于假冒用户被系统错误接受的百分比(FAR)。
表1总结了计算训练样本的EER与测试样本的FAR和FRR的结果。
表1 单一传感器和多传感器融合计算结果的指标EER。FAR，FRR
从表1可知，电容传感器性能明显差于光学传感器。其原因主要是电容传感器采集图像时的接触面积远远小于光学传感器。直接导致了其采集的图像提取的细节点数目少，因此，提取的细节点不能彼此正确的匹配。
从等错误率计算的融合结果来看，性能也有很大的提高，逻辑融合减少EER从3.6%到2.9%。测试样本的结果也表明融合提高了系统的鲁棒性，实际上，在逻辑融合(表1第5行)以后，训练样本的性能(表1第2列)和测试样本的性能偏差(表l第3列和第4列)大大减小了。
