（6）迹线噪声小，动态范围大
6433系列光波元件分析仪采用混频接收的设计理念，使用高精度和响应平坦的核心器件，结合通过设定不同中频带宽和平均，可获得更大的动态测量范围和更小的轨迹噪声，可以获取测量结果的更多细节，满足用户对大动态范围、高精度的测试需求。
图9迹线噪声和动态范围示意图
（7）夹具数据自动移除
6433系列光波元件分析仪通过光路去嵌入和射频去嵌入可将接入测试链路中的夹具进行自动移除。
当测试链路中引入电夹具或光夹具时，用户可选中射频去嵌入、光路去嵌入的使能状态，导入夹具参数文件，进行自动夹具数据移除，提升测量精度。尤其在片测试时所需的探针误差移除时，使得测量更加灵活，满足用户不同场合的测量需求。
图10 在片测试示意图
（8）多功能工具箱
6433系列光波元件分析仪内置大动态范围光功率计，可实时监测输入光功率数值，通过高级设置，可将光发射模块设定为保偏激光源输出模式（CW）模式，消光比大于20dB，为MZ型LiNiO3调制器提供所需的保偏光源。测试不仅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源输入，覆盖更宽的通信波长，满足CWDM、DWDM系统核心器件测量需求。
图11 多功能工具箱
