因应全球 LED 市场发展，芯片与封装测试大跃进：以大量同步测试取代单一手动测试
根据 TrendForce《2021 全球 LED 照明市场报告- 照明级封装与照明产品趋势（1H21）》显示，全球 LED 照明市场发展乐观， 2025 年预估可达 443 亿美金。
LED 照明市场无疑带动关联的上、中、下游产业发展，其中，在生产制程及检测中，芯片与封装测试为不可忽视的重要环节。在各个制程的最终阶段，会透过测试电源，进行升温、调光、老化测试，确认其安全性与精准度。传统测试方法仅针对单个或数个包装，手动调整电流进行调光测试，费时又费力，如今使用可编程直流电源，可一次同时测试多个 LED 芯片，提升测试速率与产能。
实测 LED 产品老化测试
我们使用 ADG-L 可编程直流电源，进行 LED 产品老化测试。透过远程计算机，以 Ethernet 通讯方式，链接恒温恒湿测试机内串并接好的 LED 芯片模块，提供每个芯片稳定的电压及电流。
藉由 ADG-L 专属的远程操作软件，设置编程程序，输入需求的电压与电流值，使其重复循环、自动跳停，并在计算机上同步观察 LED 芯片的测试结果。
其他 LED 灯源测试应用
ADG-L 系列可针对不同的待测物进行测试，除了上述的 LED 产品老化测试，业界也经常使用此机模拟电源输出扰动，进行 LED 灯源的渐层测试与闪频实验，确认 LED 灯是否产生降低视觉功能的炫光，达到检测 LED 色温、亮度和调光效果。实际测试状况，请参考下方 ADG-L 系列介绍影片。
ADG-L 系列具优秀的电源规格特性，适用于高电压或大电流之测试模拟
ADG-L 系列是一款可編程高功率密度直流电源，相较于他厂，能在同等级输出容量中，提供较大的电流，15 kW 单机具 0~135 A、0~1000 V 的电流及电压输出，并机后最大可达 75 kW、675 A，且内建 PFC 主动功率因子校正，输出功因可高达 0.99。此外，有宽量程输出选择，以及定电压、定电流与定功率模式，提供客户多元、完善的选择。多应用于太阳能、电动车、锂电池、元器件类断路器、接触器、保险丝以及实验室、认证单位等，适合需求高电压或大电流的测试，提供客户在产品设计开发初期的各种模拟，以及产品老化之生产检测。
