(a) 启用门控前的时域响应
(b) 启用门控前的频率响应
(c) 启用门控后的频率响应
图4-6 时域门控功能效果
2、 高速数字信号传输性能分析
利用TDR的时域传输测量功能可对数字信号传输系统性能进行测试与分析，同样是TDR的重要应用场景。在高速数字信号传输系统测试领域，基于VNA的TDR方案通过传输S参数测量更容易在高频段实现此功能。
在进行实际测量之前，同样需要对VNA进行校准，根据传输系统输入阻抗、输出阻抗调整VNA测试端口阻抗。如有必要使用夹具实现DUT连接，应当对每个测试端口执行夹具去嵌入。如需分析传输系统物理长度，可配置传输系统内介质介电常数或传播常数。
为获得最高的测量精度，使用标准校准件对VNA测试端口进行SOLT或SOLR校准(全二端口校准)。
图4-7 使用VNA-TDR进行信号传输性能测试
为分析数字信号传输性能，采用低通阶跃模式进行测试；将时域响应以电压或传输系数格式显示，迹线显示达到接收测试端口(夹具靠近DUT的端口)的时域信号。利用光标可读出信号传输延时及传输系统的物理长度(若介质介电常数或传播常数被正确地配置)。
分析高速数字信号传输性能时，信号传输畸变是重要的测试内容。在基于VNA的TDR方案中，通过调整时域变换时应用的窗函数参数可模拟DUT对不同上升时间阶跃激励的响应，以实现对DUT在实际工作条件下性能的测试。
为探究DUT传输性能导致的信号畸变，可使用游标搜索中的上升时间搜索功能获取传输端接收到的时域信号上升时间，结合激励信号上升时间对信号畸变程度进行初步估计，并预估DUT对传输信号抖动(jitter)最高容限以及特定码率下码间串扰的严重程度。
下图为使用基于VNA的TDR功能对某传输线的测试结果，激励阶跃信号上升时间为120ps。从测试结果可观察到由于传输系统的高频衰减较大，传输信号的上升时间明显变长；当传输数字信号比特率高于传输信号上升时间的倒数，将产生严重的码间串扰问题。此外，在时域测量结果中还能观察到明显的上升沿畸变现象，可用于初步估计信号传输质量。
(a) 时域测量结果
(b) 频域测量结果
图4-8 VNA-TDR传输测量结果
若测试所得的传输系统性能不能达到设计要求，为减少设计与测试成本，通常考虑在不重新进行系统设计的前提下，对原系统输入或输出端级联一个补偿网络，以改善其传输效果。对于高速数字信号传输系统而言，传输信号发生畸变的主要原因在于信号高频分量的衰减强于低频分量；在此情形下，对高频分量进行增益补偿是在频域上改善其性能的常用方法。在输入端，可采用预加重技术预先放大输入数字信号高频分量；在输出端，可级联一个高通滤波器实现信号各频率分量的增益均衡。
基于VNA的TDR方案很容易实现预加重与增益均衡滤波这样的频域补偿仿真，只需给出主要技术参数即可通过仿真分析不同补偿策略下的系统修正效果。
