同惠TH510系列半导体C-V特性分析仪采用了独特的硬件测试方法，可及时发现接触不良故障，出现故障之后自动停止测试并在测试界面提供接触不良点提示。
保障了结果的准确性，同时利于客户及时发现问题，避免了不良品率提高及故障品退回等带来的损失。
独创的快速通断测试（OP_SH），排除损坏器件
在半导体器件特性测试时，由于半器件本身是损坏件，特别是多芯器件其中一个芯已经损坏的情况下，测试杂散电容仍有可能被为合格，而半导体器件的导通特性才是最重要的特性。
因此，对于本身导通特性不良的产品进行C-V特性测试是完全没有必要的，不仅仅浪费了测量时间，同时会由于C-V合格而混杂在良品里，导致成品出货后被退回带来损失。
TH510系列半导体C-V特性分析仪提供了快速通断测试（OP_SH）功能，可用于直接判断器件本身导通性能。
独创模组式器件设置，支持定制
针对模组式器件如双路（Dual）MOSFET、多组式IGBT，有些器件会有不同类型芯片混合式封装；TH510系列CV特性分析仪针对此情况做了优化，常见模组式芯片Demo已内置，特殊芯片支持定制。
“携手同心，惠及未来”，从1994年开始，同惠电子始终坚持29年如一日，全心全意做产品，从品质入手，潜心研发电子测量仪器，听取大家的反馈，不断改进。做仪器，我们是认真的！
