芯片作为工业的”粮食” ，一直是全球高科技产业的重要支柱。在科学界和产业界，大家一直在不断尝试利用各种二维材料，开发出兼具高性能和低功耗的新一代芯片。
二维(2D)层状半导体，由于具备出色的栅极场穿透的原子厚度，可作为未来晶体管的通道材料。根据客户要求，我们需要在开发新材料时，不断地对样品进行参数测定，使之达到理论设计值。测试参数包含介电常数、C-V曲线、I-V曲线、静态电容。
本次我们将通过TH2838A阻抗分析仪、TH1992B精密源/测量电源定制上位机软件作为部分实验设备用于参数测定。
Tonghui 解决方案
材料介电常数分析
介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用，TH2838A系列阻抗分析仪为材料研究和开发提供了强有力的工具，配合专用材料测试夹具TH26077以及上位机软件可方便、精确的测量材料在不同频率下的介电常数。
I-V曲线测试
对功率半导体器件进行静态测试，主要是为了解功率器件的性能。TH199X系列精密源/测量单元，可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率，并内置了二极管、三极管、MOS管以及IGBT等器件的I/V曲线扫描功能，无需连接上位机即可完成IV功能测试。
C-V曲线测试
C-V特性曲线是用来测量半导体材料和器件的一种方法，TH2838A+TH1992B的组合方案，也可提供高精度的C-V曲线分析。
在瞬息万变的时代中，我们深知一个事实：优秀的解决方案能有效地解决您的问题。作为专业的电子测量测试综合解决方案提供商，我们同惠将继续根据大家的不同需求，确定有针对性且合理的技术解决方案。
“携手同心，惠及未来”，同惠电子期待与您共享科技未来。
