本示例为对上图1所示的“SMA线缆（ZA17）”及“SMA线缆+6dB衰减器”在USB3.2Gen1眼图测试中进行去嵌。
图5 USB3.2Gen1眼图测试连接示意图
图6 USB3.2Gen1眼图测试实测连接图
Step1：
首先，分别连接USB3.2Gen1的差分正负信号，其中正端使用“SMA线缆（ZA17）”连接示波器端口1和USB3.0夹具“＋端”，负端使用“SMA线缆+6dB衰减器”连接示波器端口3和USB3.0夹具“－端”。因为±端口有6dB的衰减，且两根SMA线缆长度不同，造成USB3.2Gen1的差分信号正负级幅度有一倍的差别，且有一个明显的延迟。差分信号的±端实测结果如下图所示：
图7 USB3.2Gen1差分正负信号（因C3负端接了一个6dB衰减器，故其幅度仅为C1正端一半。C1与C3 SMA线缆长度不一致，造成C1与C3之间有一个明显的延迟）
Step2：
使用R&S RTP示波器的硬件“单端转差分”功能，把单端信号实时转换为差分信号。测试结果如下图所示：
图8 RTP硬件“单端转差分”（因C1与C3幅度差别较大，造成差模/共模信号质量都较差）
Step3：
使用R&S RTP示波器的“高级眼图分析”功能生成经过这两段线缆的USB3.2Gen1信号的眼图，并测量眼宽/眼高等参数。其结果如下图所示：
图9 RTP“高级眼图分析”生成眼图（眼图质量较差）
Step4：
分别在上述3组测试中开启“实时去嵌”功能。将这两根SMA线缆（含衰减器）的S参数导入RTP示波器的“去嵌功能”中，对这两根SMA线缆分别进行实时去嵌。
图10 USB3.2Gen1差分正负信号（去嵌后，正负端幅度/延迟影响都已去除）
图11 RTP硬件“单端转差分”（去嵌后，差模/共模信号质量较好）
图12 RTP“高级眼图分析”生成眼图（去嵌后，眼图质量较好）
#结语
本文介绍了高速串行信号测试中对夹具/线缆/连接器等进行去嵌的必要性和在R&S RTP示波器上进行实时去嵌的方法。并以实际测量验证了通过R&S矢量网络分析仪ZNB测量S参数，以及通过R&S RTP示波器对夹具/线缆/连接器等进行去嵌前后的对比结果。
