安立公司（总裁Hirokazu Hamada）发布MS9740B光谱分析仪的脉冲光测量选件（MS9740B-020），用于评估脉冲激光二极管（LD）芯片。新的解决方案缩短了脉冲LD芯片的测试时间，有助于提高大功率LD芯片的生产效率。
开发背景
LD芯片制造商和光学设备供应商在制造过程中评估LD芯片的光谱。
更高的通信比特率和更长的激光雷达探测范围推动了对高功率LD芯片的市场需求。此外，新的使用案例，如用于共封装光学应用（CPO）的外部激光小型可插拔（ELSFP）模块，预计将加速上述需求。从高功率LD芯片输出的连续波（CW）随着芯片温度的升高会产生功率漂移和波长偏移，而通过采用脉冲LD芯片来抑制温度上升可以防止上述问题。然而，在制造过程中对脉冲LD芯片的电流测试需要更长的时间，因为需要外部触发信号来与脉冲LD芯片同步。
产品概况和特征
·缩短脉冲LD芯片的单件产品生产时间
新的MS97040B-020解决方案通过消除对触发信号的需求来加速光谱评估。
·确保高功率LD芯片的测量再现性
该解决方案确保边模抑制比（SMSR）的测量再现性为±1.4 dB。低SMSR变化提高了LD芯片产量并有助于生产效率。
