20 质谱的表示方法 ：质谱一般可用线谱或表谱两种方法表示。常用线谱;线谱上的各条直线表示一个离子峰，横坐标为质荷比m/z，纵坐标为离子的相对强度(相对丰度)，一般将原始质谱图上最强的离子峰定为基峰并定为相对强度100%，其他离子峰以对基峰的相对百分值表示。能够很直观地观察到整个分子的质谱全貌;质谱表是用表格形式表示的质谱数据，质谱表中有两项即质荷比及相对强度。对定量计算较直观。
21 质谱仪的分辨率 ：分辨率(R)指质谱仪能区别邻近两个质谱峰的能力。对两个相等强度的相邻峰，当两峰间的峰谷不大于其峰高10%时，则认为两峰已经分开。
22 质谱图中主要离子峰的类型 ：分子离子峰、同位素离子峰、碎片离子峰、亚稳离子峰、重排离子峰。
23 相对分子质量的测定 ：分子离子峰的m/z相当于该化合物的相对分子质量。一般除同位素离子峰外，分子离子峰是质谱图中最大质荷比的峰，位于质谱图的最右端。
24 确认分子离子峰的方法 ：(1)分子离子峰必须符合氮数规则。有机化合物含有偶数个氮原子或不含氮原子，分子离子峰的m/z一定是偶数;含奇数个氮原子，分子离子峰的m/z一定是奇数。(2)分子离子峰与相邻离子峰的质量差应合理，如不可能出现比分子离子峰质量小4～13个质量单位的峰。(3)当化合物中含S,Br, Cl时，可利用M+•, (M+2) +•等同位素离子峰的比例来确认分子离子峰。(4)改变质谱仪的操作条件，提高分子离子峰的相对强度。采用化学电离源或降低电子轰击源电压可获得较强的M+峰。
25 气相色谱-质谱联用仪 ：质谱：纯物质结构分析。色谱：化合物分离，定性能力差。色谱-质谱联用：共同优点。GC-MS;LC-MS;CE-MS，色谱是质谱的进样及分离系统;质谱是色谱的检测器。主要问题：接口技术;除去色谱中大量的流动相分子。适用范围：适用于挥发度低、难气化、极性强、相对分子质量大及热稳定性差的样品。
26 无损检测定义 ：无损检测技术即非破坏性检测，就是在不破坏待测物质原来的状态、化学性质等前提下，为获取与待测物的品质有关的内容、性质或成分等物理、化学情报所采用的检查方法。
