使用PXI信号分析仪测量IMD和TOI
互调失真（IMD）和三阶截点（TOI）是NI-RFSA软件前面板（SFP）的内置测量功能。进行这些测量时，可以将信号分析仪的频率设置为以两个基音为中心频率，以确保可以看见高于本地噪声的三阶失真产物。在NI-RFSA SFP上选择检测音，生成测量结果。NI-RFSA SFP会自动识别基音的功率差以及三阶失真产物的功率差，并显示正确的测量结果。有关PXI RF信号分析仪的更多信息，请访问ni.com/rf/test。
基音信号功率每增加1 dB，三阶失真产物功率增加3 dB
实际上，IP3/TOI是计算所得而非测量所得的结果。一阶产物和三阶产物之间的功率增加比是3:1，利用以下公式可以计算出IP3。
TOI是衡量射频前端性能的重要指标，因为IMD比率取决于功率电平。TOI的测量将IMD性能的要素与功率电平相结合，并通过一个数字来表示性能。
IMD测量配置
根据IMD测量理论，执行该测量需要双音激励信号。在大多数应用中，配置双音激励信号的 方法是将RF信号发生器连接至RF功率组合器，如图13 所示。
IMD测量需要连接至功率组合器的两个信号产生器
由于IMD是一种常见的测量方式，许多RF信号分析仪具有内置测量功能来测量IMD或IMD/TOI。事实上，NI-RFSA SFP可以自动检测基音和三阶失真产物，并计算出IMD比。
