另一个不可忽视的问题是模拟电路本身所带来的噪声、失调和增益误差的影响，如图 3所示简化的电压测量电路，第一张图为1000V量程的测量通路，最高输入电压1000V时通过衰减电路会输出1V电压，放大电路不放大，跟随电压后送入ADC进行采样。如果输入10V时衰减电路只能输出0.01V的电压，首先如此小的信号叠加噪声后会对信号本身产生很大影响，其次由于放大电路（运放）的失调和增益误差的影响，哪怕只产生0.1mV的失调和增益误差都会对0.01V的有效信号产生很大的误差。在仪器的出厂前会对这些误差进行校准以消除固有的偏差，不过因使用过程中温度和老化的影响这些值会发生变化，在标示仪器的精度指标时会留有一定的余量以确保仪器处在可保证的精度内，但是如果用大量程去测量小信号时温度和老化产生的影响将无法得到保证。
在测量较小信号时应使用图 3 第二张所示的电路，首先衰减电路进行较小倍数的衰减，10V输入时衰减电路输出0.1V，然后放大电路将有效信号放大10倍到1V送入ADC取样。这样的处理方式将会显著减少噪声、失调和增益误差的影响，在包含小量程的测量设备中通常会采用这样的方式或等效的方式进行处理。
