过去，在很多LED生产测试系统中人们常常采用PC机控制测试的各个方面。换句话说，在测试序列的每个组成部分中，每个测试必须对信号源和测试仪器分别配置，执行所需的操作，然后将数据返回给控制PC。控制PC然后进行pass/fail判断并执行相应的操作对DUT进行分拣。发送和执行的每条命令都浪费了宝贵的测试时间，降低了产能。显然，在这类以PC为中心的测试结构中，大部分测试序列时间都被PC和测试仪器之间的通信所消耗了。
相反，当前很多智能仪器，例如2600A系列数字源表，通过减少通信总线上的通信量，使得大幅提高复杂测试序列的产能成为可能。在这些仪器中，测试序列的主要部分嵌入在仪器内部。测试脚本处理器(TSP?)是一种全能的测试序列引擎，能够利用内置的pass/fail判据、数学和计算公式控制测试序列和数字I/O端口。TSP能够将用户自定义的测试序列保存在存储器中然后根据命令执行它。这样就限制了测试序列中每一步的设置和配置时间，通过最大限度减少与PC和仪器的通信而提高了测试产能。这类仪器的编程过程相对简单：1)创建脚本;2)将脚本下载到仪器中;3)调用脚本执行。对于2600A系列仪器，用户可以利用仪器本身提供的Test script Builder软件编写或者下载脚本，或者从用Visual Basic或LabVIEW等语言编写的用户应用程序中下载到仪器中。
单LED器件测试系统
图2是测试单个LED的测试系统简化模块图。对于自动化测试，通常包含一台PC和一个元件机械手——晶圆级测量需要一个探针台。
图2. 基于数字源表的单LED测试系统模块图
在这个测试结构中，PC机的主要作用是将测量数据保存在数据库中用于资料记录。第二个作用是针对不同的部件重新配置测试序列。2600A系列的独特之处在于它们能够独立于PC控制器单独工作。每台仪器上内嵌的TSP支持用户编写能够在仪器本身上执行的完整测试规划。换句话说，用户可以编写完整的PASS/FAIL测试序列脚本，无需仪器重编程即可通过仪器面板运行它。
生产测试系统可以利用元件机械手将单个LED传送到测试夹具上，进行电气接触。该夹具屏蔽了环境光，并且安装了光电探测器(PD)进行光学测量。在如图2所示的配置中，使用了一台2602A型双通道数字源表实现两种连接。其中，源测量单元A(SMUA)为LED提供测试信号并测量其电响应，而SMUB在光学测量过程中用于监测光电二极管。
测试序列在编程开始时利用元件机械手的一条数字线作为“测试启动(SOT)”信号。当数字源表检测到这个SOT信号后，LED特征分析测试就开始了。
在所有的电气和光学测试都完成之后，系统为元件机械手设置一条标志“测量完成”的数字线。此外，仪器本身的智能功能执行所有的pass/fail操作，通过仪器上的数字I/O端口向元件机械手发送一条数字命令，根据pass/fail判据对LED进行分拣。然后，可以设定两个操作同时执行：将数据传输到PC进行统计过程控制，同时将一个新的DUT传送到测试夹具上。
多器件/阵列的LED测试系统
在多器件测试情况下，例如涉及老化的测试，我们要在规定的时间内同时测量多个部件。驱动DUT通常需要连续的电流，但是多个光学探测器可以通过开关系统复用一个电流计。用户可以根据所测电流的动态量程选择合适的开关系统和电流计。
多LED器件测试可以选择多种类型的开关。例如，3706型开关/万用表具有6个开关模块插槽，因此它最多可支持576个复用通道或者2688个矩阵交叉点。与2600A系列仪器类似，它也内置了板载TSP和TSP-link?设备间通信/触发总线，利用这套总线可以快速而方便地将这些仪器集成到一个系统中。这种集成支持紧密同步的仪器间操作，并且能够让它们在一个测试脚本的控制下进行操作。图3给出了具有一个光电二极管(PD)通道的三LED器件测试系统结构。
