(2)测试步骤
1)将基站配置为TM1.1状态,输出功率为20 W=43 dBm;
2)R&S频谱仪FSW重置,设置MEASàSPURIOUS EMISSIONàSWEEP LISTàEDIT SWEEP LIST;
3)设置RMS方式;
4)频谱仪设置频点,以E UTRA band39为例,频段为1 880 MHz—1920 MHz,结果如图5所示;
5)设置RBW=100 kHz,VBW=300 kHz;
6)设置Sweep Time,Detect Mode进行测试。
其他测试杂散发射测试的基站类型只需重复上述步骤即可,最后的测试结果如表3所示:
图5 杂散发射测试结果
表3 TD-LTE Band40共址杂散发射测试结果
(3)测试结果分析
根据移动测试标准3GPP TS 36.104以Band40为例,基于传统的共址杂散测试方案,探讨了一种新型的共址杂散测试方案,采用了双工器和低噪放相结合的方法。在此方案中,双工器的主要作用是将载波信号和杂散发射区分开来,解决频谱仪的动态范围不足的问题。低噪放的主要作用是提高杂散发射电平,解决了频谱仪底噪过高的问题。通过解决以上两个关键问题,实现了测试结果的准确性,从表3的测试结果可以看出,在测试带宽100 kHz的条件下共址杂散发射的结果优于-102 dBm,满足测试要求。系统达到设计目标,完成了杂散发射的测试任务。
3 结束语
本文探讨了一种新型的共址杂散测试方案,改进了频谱仪动态范围有限和底噪过高的问题,最后的测试结果符合3GPP测试标准。同时通过集成与Labview相结合,可实现杂散发射的自动化测量,在实际应用中前景广阔。
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