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NI PXI 进行半导体检验作业 提升系统效能


时间:2015-07-29 作者:
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 "透过 NI PXI 技术为架构的新平台,我们不仅保有量测的效能与精确度,并降低 倍的成本达到 10 倍的半导体检验速率。"——Ray Morgan, ON Semiconductor 

挑战:

 以低价位解决方案进行精确作业,并可透过软件与硬件轻松升级,且同时提升新款与旧款半导体产品的检验速率。

解决方案:
 模块化的 PXI 架构平台可使用最新的处理器技术,并以更低的价位提升 10 倍的半导体检验速度,以取代昂贵的独立测试设备。

更新测试系统以满足业务需求

 安森美半导体 (ON Semiconductor) 公司需要低价位的解决方案,以提升新产品的检验速率。为了能缩短评估循环时间并降低成本,我们必须开发精确的系统,并可因应将来需要,轻松透过软件与硬件进行升级。针对旧款的高速与金属闸 (metal gate) 产品,新系统必须能处理其通道数量,亦要能用于新款的高速电压准位编译器。

 在半导体技术所有突破时,某些昂贵的独立测试仪器可能随之报废。由于新一代的测试平台具有足够弹性,可跟上技术成长的步伐。因此我们要以最低成本取得可升级的效能,并能将之轻松整合至未来的应用。

 由于先前系统的量测速率受制于独立仪器的处理器速度,与完整测试的设定作业,因此其隐性成本即为测试作业所需的时间。即使我们使用最常见的软件平台,欲自动化测试作业,但是执行速度仍受限于系统内速度最慢的独立仪器。

 此外,我们必须针对测试系统的各个元件,降低其详细检验所需的成本,所以仪控成本亦成为问题之一。对独立仪器而言,亦必须提列额外成本以购买仪器可共享的备用元件,如仪器机箱、处理器,与电源供应器,以供不时之需。在仔细计算过后,我们甚至发现:若要以独立仪器达到模块化仪器平台的效能,则必须多花 3 ~ 5 倍的成本。

 

PXI 测试系统的新设计

 

 我们的平台可用于测试半导体装置的 AC 与 DC 参数。在此之前,我们必须使用多组独立高频宽示波器,跨 16 个通道执行 AC 参数的检验作业。在 PXI 平台架构下,我们花费 20,000 美金购买 1 组 NI PXI-5154 - 1 GHz 示波器、2 组 NI PXI-2547 - 8x1 多工器,与所需的探针;即取代了 4 组 1GHz 示波器超过 60,000 美金的采购成本。在获得量测效能与精确度的同时,我们更省下 3 倍的成本。除了节省成本之外,新平台更可达到先前测试作业的 10 倍速度。

关键词:NI,PXI,半导体    浏览量:444

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