红外热像仪用于研发，工业检测与设备维护的应用范围愈来愈广泛，红外热像仪的需求也在逐年增加之中，在科研，医疗，电子建筑等各行各业中发挥着举足轻重的作用。
红外热像仪有许多参数，依据现行的热像仪校准规范（JJF1187-2008）的要求，需要对外观、显示、示值误差、测温一致性进行校准。
热成像仪示值误差和测温一致性校准可以用腔式黑体辐射源或者面辐射源来完成。如下表格：
当黑体辐射源的尺寸不能完全覆盖热像仪视场时，需要调整热像仪或黑体辐射源位置，使黑体辐射源中心分别成像于标记点，使辐射源中心分别成像于热像仪显示器的各个区域，需要调整并测量9次（JJF 1187-2008热像仪校准规范）如下图
福禄克的4180和4181大面源红外温度校准器，能完全覆盖热像仪视场，1次成像即可完成测量，快速高效。
Fluke 4180大面源红外温度校准器
超大目标靶面，152mm直径。
发射率可调整修正范围为0.9 ～ 1.0
最佳稳定性±0.05℃；最佳均匀性±0.1℃（127mm直径范围内）
4180温度覆盖范围 -15℃ ～ 120℃
4181温度覆盖范围 35℃ ～ 500℃
