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日置HIOKI在半导体器件测试中的应用


  来源: 日置HIOKI 时间:2021-01-20 编辑:清风
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● 基本精度:±0.65% rdg.

● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小

● 丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)

● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量


关键词:日置 HIOKI 半导体 器件测试    浏览量:41988

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