● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
关键词:日置 HIOKI 半导体 器件测试 浏览量:41988
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