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半导体测试位点太多?虹科多位点数字测试系统帮你忙


  来源: 虹科测试测量 时间:2021-08-11 编辑:清风
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除非半导体测试系统的空间(PXI插槽)十分宝贵,否则多位点测试系统在设计时还是应该为每个DUT测试位点提供一个数字域。虽然硬件的前期成本会很高,但这会在后期测试过程中带来巨大的回报。这保证了尽可能快的测试时间并简化了测试编程,在多位点数字测试系统的设计中,这些功能是至关重要的。


关键词:半导体测试 虹科 测试系统    浏览量:29377

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