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从”三体”到“存算一体芯片测试方案”


  来源: 众执芯信息 时间:2023-04-11 编辑:仪器仪表WXF
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基于以上的测试需求和难点,上海众执芯信息科技有限公司基于NI平台推出存算一体化测试系统(ZoX MRAM Test System),可扩展至1024*1024阵列规模或更大规模;提供高精度的I-V测试与不同的脉冲测试方案;并可根据客户的器件特性,进行方案定制及实现。


图4 NI测试平台


NI拥有丰富的SMU与Matrix产品,可以相互组合,应对不同规模的存算一体阵列需求,结合PXIe的高性能同步与LabVIEW的快速开发能力,配合ZOX针对存算一体芯片开发的测试软件,可支持客户进行存算一体相关课题的研究与验证。


近日,NI与华东师范大学段纯刚、田博博教授团队合作开发了一套存算一体化芯片的验证系统。通过软件控制摄像头实时采集图案,并转化为数字图像;由NI多通道设备向芯片(铁电电容器阵列)写入该图像信息,然后利用铁电电容器的动力学特性对图像进行实时处理,达到提取动态信息的目的。合作搭建的系统很好的验证了该芯片可实现图像存储和动态识别的功能。

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