基于此，目前一些认证标准（如TCO显示屏认证标准）在其最新版本中，提出颜色测量需采用分光光谱法。
分光光谱法-光谱辐亮度计
光谱辐亮度计是基于光谱测量技术的高度集成的高精度测量仪器，主要特点在于采用光谱法测量显示屏亮度和颜色，计算方法如式(3)所示，其中 为光谱辐亮度。由于在计算过程中采用理想的CIE三刺激值曲线0006直接加权积分，不存在三刺激值色度计中的光谱失匹配误差，测量精度极高。
过去，高精度光谱辐亮度计因成本因素限制，主要用于认证实验室、计量机构或者企业的基准设备。远方光电在保证高测量精度的前提下，开发了一系列适用于工业领域的光谱辐亮度计，以提高显示产品的颜色测量精度，更好地评价和控制产品品质。
图8所示为典型的光谱辐亮度计及其测量原理图，在标准视场角测量条件下，瞄准被测发光区域，测量光束经色散系统（一般为光栅）分光后，投射至阵列探测器的探测表面，阵列探测器的像素与光谱波长一一对应，从而获得瞄准区域的光谱辐亮度 。分别在全白场和三基色信号输入下对显示屏进行测量，就可以得到白场色坐标、基色色度坐标、色域覆盖率等颜色参数。
此外，该光谱辐亮度计可满足显示屏上不同测量区域大小的切换以及不同产品的测量要求；测量速度极快，可以以毫秒级测量速度实现整个光谱范围的测量；现场测量还可采用WIFI，方便分享实时数据，应用灵活。图9是其对显示屏的典型测试报告，通过一次测量即可以得到显示屏的亮度、光谱数据、色品坐标、主波长、相关色温等参数，在三基色信号下分别进行测量后软件即可自动计算色域覆盖率等参数，评价参数全面。
显示屏均匀性高精度测量的综合解决方案-光谱图像亮度计
亮度均匀性也是显示屏的另一项重要评价指标，可通过成像亮度计快速测量。为了综合评价显示屏的亮度、颜色以及均匀性，提高测量精度和测量速度，光谱图像亮度计应运而生，图10为光谱图像亮度计的测量原理和典型设备，通过采用双CCD设计，既能够一次成像测量二维空间的亮度分布，也能够得到指定点的高精度光学特性参数。光谱测量不存在失匹配误差，测量精度高，可用于校正其他点的测量值；结合精确的数字图像定位，被测对象的对准精度高、复现性好。该方案不仅可以很好地避免了传统亮度、色度等测量存在的失匹配误差，而且能够快速地获得二维空间的亮度、色度等参数，实现高效高精度测量。
