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红外测温技术在GIS故障诊断中的应用


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2015-11-25 作者:荆楚
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从表1中可以看出,A相回路电阻超出出厂规定247μΩ(出厂值不大于396μΩ),相间差50.03%。从而确定该位置电连接存在接触不良故障。

设备解体后,对内部情况进行检查后发现,该发热主要有两个原因造成

触指与导电杆接触不均匀。检查电连接触指有发黑痕迹,触指内部情况见图4。由图4可判断为装配时涂抹导电膏,触指导流受热焦化发黑;现场检查发黑触指分布集中在底部下端,判断该位置触指与导电杆接触不均匀。由于早期制造工艺原因,触指不能与导电杆有效全部接触,导致电流不能均匀通过触指(27片),造成局部触指发热。

4 触指内部情况

电连接导电座与触指座接触不良。解体发现导电座与触指座接触不好见图5,检查电连接内部的螺栓有3个螺栓力矩未达到25N·m要求,导致接触不良发热,且出现导电膏受热不均烧蚀凝固发黑的现象。

5 触指座与导电座连接面

关键词:仪器仪表 红外测温 红外辐射能量 电力    浏览量:634

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