由于GIS设备具有占地面积小、运行可靠、设备检修维护周期长等优点，近年来在电力系统各电压等级中得到大力应用和推广。随着GIS设备数量的不断增多以及运行年限的日益增长，各类缺陷逐渐增多，主要表现为发热型缺陷、放电型缺陷和机械型缺陷。发热性缺陷主要包括导电回路接触不良、绝缘整体受潮、老化等引起的发热，是 GIS设备的主要缺陷类型，由于发热引起的设备故障近几年屡见不鲜，已造成多起设备停运甚至爆炸等事故，因此加强GIS设备热缺陷的检测与分析具有重要意义。
红外测温技术作为带电检测的一种重要手段，具有不停电、不接触、不解体、不取样等一系列优点，已广泛应用在电力系统中。目前红外测温技术不断成熟，红外测温仪的测量精度及图像分辨率均能达到精确测温的要求，通过红外测温技术，分析诊断GIS设备热缺陷必将成为开展设备状态检测的重要手段。文章基于红外测温原理，分析GIS设备内部与外部热缺陷的机理及表现形式，提出相应地诊断依据，并通过实例进行分析验证，总结出有效地检测和诊断方法，以达到对现场实际提供有效指导价值的目的。
一、红外测温基本原理
任何温度高于绝对零度（-273℃）的物体都会向外辐射红外线，红外辐射能量与温度成一定的函数关系。见式（1）
式（1）中：W为发热体发生功率，W；ε为辐射率；δ为玻尔兹曼常数；A为发射体表而积，㎝2；T为发射体的绝对温度，K。
由式（1）可知，已知发射体表而的发射率，通过检测红外辐射能量，就可推断出发射体的温度。红外热像仪测温的原理见图1
图1 红外测温原理图
