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基于FPGA低成本数字芯片自动测试仪的完整方案


  来源: 仪器仪表商情网 时间:2015-07-28 作者:
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w00操作

w11操作

r00操作,期望值为0

r11操作,期望值为1

March C算法是运行时间为10N,其中N表示存储器的存储容量。

其故障覆盖率可达到90%以上。

另外,研究过程中将对March算法进行优化。


关键词:测试,电路,芯片    浏览量:458

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