项目名称：基于FPGA低成本数字芯片自动测试仪的研发
研究目的：应用VertexⅡ Pro 开发板系统实现对Flash存储器的功能测试。
研究背景：
随着电路复杂程度的提高和尺寸的日益缩减，测试已经成为迫切需要解决的问题，特别是进入深亚微米以及高级成度的发展阶段以来，通过集成各种IP核，系统级芯片（SoC）的功能更加强大，同时也带来了一系列的设计和测试问题。
测试是VLSI设计中费用最高、难度最大的一个环节。这主要是基于以下几个原因：
1、目前的IC测试都是通过ATE（自动测试仪）测试平台对芯片施加测试的。由于ATE的价格昂贵（通常都是几百万美元每台），因此测试成本一直居高不下，这就是导致测试费用高的最主要原因。
2、随着VLSI器件的时钟频率呈指数增长，在这种情况下，高频率、高速度测试的费用也相应的提高。
3、VLSI器件中晶体管的集成度越来越高，使得芯片内部模块变得更加难测，测试的复杂度越来越大，这又提高了测试成本。
本次研究希望能够利用FPGA部分实现ATE的测试功能，这样就可以在某种程度上大幅度降低测试成本，同时有能够满足测试的要求。
功能特点：
完整的测试结构，较完善的测试功能。
使用March C的优化算法，测试时间较短。
能够覆盖Flash存储器的大部分故障。
