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菲莱测试张文修:深耕光芯片测试技术,助力光传感产业发展

微访谈:菲莱测试研发总监张文修


  来源: MEMS 时间:2023-08-23 编辑:白芷
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张文修:主要差异在测试条件上,消费电子VCSEL在10 us ~ 3 ms的脉冲测试基本能覆盖所有产品,但车载激光雷达(LiDAR)VCSEL的测试基本要在100 ns以下的窄脉冲进行测试,甚至在不同的芯片形态下要做到几个ns的量级。最主要的原因是车载芯片对功率密度要求较高,VCSEL芯片从5结、6结逐步在往更高结数演进,更窄的脉冲能将芯片的结温保持在合理的水平。


麦姆斯咨询:面向汽车类激光雷达,VCSEL可靠性测试方面有哪些挑战?


张文修:可靠性测试主要是通过对芯片的加速老化来发现在设计和制造过程中的缺陷。这里分老化和测试两部分,老化设备提供加速老化条件使产品老化,测试设备尽可能还原产品的真实使用工况,来获取产品的性能参数,以反映经过老化后的性能变化。这两种设备均需用到窄脉冲条件,窄脉冲的产生和驱动源以及驱动链路的感抗有极大的关系,所以可靠性测试方面都会面临驱动源的设计和测试链路布局的挑战,需要进行大量的仿真和实验迭代验证。


麦姆斯咨询:汽车类激光雷达应用的VCSEL测试方面,产业链对测试项目、测试标准是否已有统一认知或者达成共识?请谈谈您的理解和看法。


张文修:激光雷达VCSEL在产品形态上和消费级VCSEL基本相同,测试项目包含光电性能测试(LIV测试、光谱测试)和光斑质量测试(远近场测试),测试项目中包含的参数计算方法,ISO标准里也有对应的要求,业内已经基本达成共识。但由于VCSEL在激光雷达上的应用时间比较短,应用的条件和环境在变化,需求也在不断变化,尚未有统一的测试标准。


麦姆斯咨询:近些年,VCSEL技术发展迅速,新的测试需求不断涌现,菲莱测试针对极窄脉冲的LIV测试及多结、可寻址VCSEL测试方面有何进展?


张文修:菲莱测试LiDAR VCSEL窄脉冲驱动设备在2022年底已经发布,支持多结产品50 A/60 V/100 ns的窄脉冲测试。多分区和可寻址VCSEL的测试,在今年7月底也已经完成,已经在无锡菲光实验室接受客户的打样测试,欢迎前来沟通。


LiDAR VCSEL窄脉冲量产型晶圆测试台


麦姆斯咨询:针对汽车类激光雷达厂商,例如禾赛科技、速腾聚创等,菲莱测试提供哪些服务?


张文修:禾赛科技现场有多台菲莱测试的设备在使用中,也有一些可靠性代工、测试、分选代工服务与无锡菲光合作,由于和客户之间有保密协议,细节方面不方便透露。


麦姆斯咨询:入局光芯片测试行业多年,给您的最深感受是什么?


张文修:光芯片的迭代速度很快。从40 G到400 G的发展只用了几年的时间,从指纹解锁、扫码支付到现在的人脸识别的普及也只用了短短两三年时间,这在很大程度上改变了人们的生活质量和生活方式。


国内光芯片可靠性测试设备起步较晚,但现在迎着中国制造和中国创造的东风,借助行业基金的扶持和产业链上下游的相濡以沫,也正在迅速崛起。国产设备的质量、性价比以及后期的服务优势也日益彰显。随着国内光芯片、光模块企业蓬勃发展,国内产业链逐渐完善,全球的重心已在向中国倾斜,这给该行业的从业人员和相关企业带来了比较好的机遇。我为自己和公司能身处这个行业而感到荣幸!


麦姆斯咨询:您如何看待国内企业在光传感测试方面的竞争力?处于何种国际水平?


张文修:光传感测试范围比较大,就谈谈我对VCSEL传感测试方面浅显的认知吧。VCSEL在传感方面大规模的应用应该是从苹果手机的人脸解锁功能兴起的,那时国内该行业处于起步阶段,对于芯片的制造、测试的认知还不完善,测试设备的选择也大多优先考虑大陆以外的公司。菲莱测试成立之前创始人团队在谋划产品路线时,VCSEL可靠性测试便是其中之一,但同时也深知国内行业阶段和技术门槛的机遇与挑战。


关键词:光传感 VCSEL技术 测试 芯片    浏览量:5266

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