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集成电路的可靠性测验之——高/低温操作生命期试验


  来源: 东方中科 时间:2018-07-20 编辑:夏禅
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故障追溯功能、试验箱发生故障之前的运行状态会被自动记录并保存。

左右电缆孔、便于实施通电连线、进行多项测量。

满足多项国际安全规格要求。

温度范围:-70~180℃/10%~98RH;内容积:220L~980L



关键词:集成电路 测试 环境温箱    浏览量:4214

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