结语
IC技术的发展，一方面提供了大量的功能强大的芯片供系统设计者选用，目前高性价比的DSP芯片不仅迎合了当今数字化浪潮，同时为设计者提供了多种低成本的选择；另一方面，大量新型芯片的出现，给芯片测试带来了新的挑战，作为电子产品数字化核心之一的混合信号芯片成为芯片测试领域的一个新的热点。本文针对国内测试设备制造业的现实情况，提出了一种混合信号测试的低成本解决方案，本文方案充分利用现有条件，遵循标准化和模块化的设计思路，解决了多种频带的混合信号测试问题，是国内现实情况下测试设备制造业的一个探索，相信会随着新技术的出现不断发展和完善。
关键词:芯片 处理器 测试 浏览量：5159
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