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芯片突围,测试系统应发挥更大作用

横河的芯片测试系统


  来源: 横河测试测量 时间:2019-09-12 编辑:伊敏
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这些量身定做的改变,搭配上横河传统的自由空间光构造设计,在相同设置条件下,扫描速度可是AQ6370D的两倍不止,能给客户提升的产能是相当可观的。


 

AQ6360激光芯片扫描图谱

扫描速度

选型时大部分客户最为关注的就是扫描速度,因为对激光芯片测试的企业来说,需要测试的芯片可能数以百万为计,所以提升每个芯片的测试效率就非常重要了。

@Sens: MID, x2 mode. Res 0.1 nm, Span 50 nm, 2001 points

波长精度

有些客户可能会质疑:“AQ6360就是AQ6370D做了减配吧?”

对比AQ6360与AQ6150(波长计)就会发现,AQ6360实际的波长精度到底有多好——

AQ6360波长精度指标是0.02nm(20pm);

AQ6150波长精度是1pm。

 

 

上图对比可以看出AQ6360实际的精度要好于标称参数,大概4pm左右,完全能够跟市场上一些波长计相媲美。它的性能和AQ6370D一样出色!所以AQ6360可以给客户带来前所未有的“快感”,同时又能保证测试的精度。

 

芯片的供电与测试——SMU

源测量单元(SMU),顾名思义就是可编程电源和测量仪表的结合体,既可电源输出,又可以进行测量。随着对源和测量同步性要求的不断提高,SMU在生物化学、超导材料、光电器件测试、半导体研究等领域起到了越来越大的作用。

 

GS820工作时序图

 

以对半导体激光器芯片进行检测为例,需要SMU输出电流驱动激光器,并测量光电传感器的输出电压,同时使用光谱分析仪对激光器的发光波长和光谱特性进行检测。

由于光电传感器产生的电压很小,需要源表具有很高的分解能力和测量精度。为了避免激光器过热和提高检测速度,驱动电流需要以窄脉冲扫描的形式进行输出,这就对SMU的响应和测量速度提出了很高要求。这样的检测工作在生产线上可能需要连续24小时进行,SMU的稳定性也至关重要。

 

 

SMU 源测量单元的关键参数:

精度

精度是根本,高精度SMU的输出和测量精度可以达到很高,然而这个精度指标通常是有很多限制条件的,比如温度范围、保证时限等。保证精度的温度范围越宽,保证时限越长,实际测试过程中的精度才越有保障。

横河GS200系列SMU的最高精度可达读数的0.001%;在23±5℃的温度范围时,一年的保证精度也可以达到读数的0.016%;23±5℃温度范围以外时,温度系数更可高达±0.0008%/℃。

稳定性

稳定性是指SMU在进行长时间连续测量时,精度的变化情况。影响稳定性的因素有很多,如元器件的质量、零部件的磨损老化、以及使用或贮存不当等。

另外,SMU的实际应用场景通常会连续测量较长时间,会在SMU的机箱内产生并积累热量,如果散热处理不当也会对输出和测量的精度带来较大的影响。


GS200输出稳定性与其他公司产品对比

 

响应速度

当SMU的输出通过扫描或编程频繁进行切换时,输出的响应速度就变得尤为重要。

快速的响应才能保证输出对时间的准确性,迅速而准确地达到输出值,而良好的震荡抑制能够确保电压、电流输出的稳定,避免对被测对象产生不必要的冲击。

 

结语

关键词:半导体 芯片 测量    浏览量:15594

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