微波半导体芯片测试解决方案

（2）测试结果及分析
3986噪声系数分析仪提供图形、表格、测试仪三种显示格式，可根据需求选择对应格式。在本次试验中，通过【格式】→[显示格式]→[图形]设置，查看当前测试数据的曲线图；通过【格式】→[显示格式]→[表格]设置，查看当前测试数据的表格数据。低噪声放大器芯片噪声系数、增益测试曲线和表格数据如图6所示。

图6 低噪声放大器芯片噪声系数、增益测试曲线和表格数据

已知该低噪声放大器芯片噪声系数典型值为1.05dB，增益为24dB。将测得的数据写入excel制成曲线（右），与厂家提供的典型曲线（左）对比。噪声系数测试曲线对比如图7所示，增益测试曲线对比如图8所示。曲线重合度较高。
 

图7 噪声系数测试结果与典型曲线对比

图8 增益测试结果与典型曲线对比

总结
本次对低噪声放大器的测试，可应用于低噪声放大器芯片的生产测试环节，为保证测试的准确性，需要注意以下内容：

（1）3986噪声系数分析仪进行噪声系数和增益的测试，测试前要先连接噪声源进行主机校准，然后输入损耗补偿值。不推荐直接使用噪声系数分析仪测试附件插损。
（2）3672矢量网络分析仪用作系统校准，测试探针、线缆整体的S21，计算损耗补偿值。因此在校准前需要充分预热，保证校准数据可反复使用。
（3）采用标量二分的方法补偿系统附件插损，DUT前和DUT后均等于-|S21|/2，因此需要探针和电缆具有较好的对偶一致性。