LCR测试仪（LCR）与阻抗分析仪（Impedence Meters）
阻抗(electrical impedance)是电路中电阻、电感、电容对交流电的阻碍作用的统称。阻抗衡量流动于电路的交流电所遇到的阻碍。阻抗将电阻的概念加以延伸至交流电路领域。
LCR 测试仪和阻抗分析仪被设计用于测试电子元件在某些频率或宽频率范围内的阻抗。如果阻抗不符合规格，则这些电子元件将不能正常工作。
测量原理
日置HIOKI的LCR 测试仪和阻抗分析仪使用自动平衡电桥法（ABB） 和 射频电流-电压法（RF I-V） 两种方法测量阻抗。
使用自动平衡电桥法的LCR测试仪或阻抗分析仪可以在较宽的频率范围内（1MHz~100MHz）测量较大的阻抗，适用于低频、通用测试，但尚不足以进行高频测试。
而使用射频电流-电压法的仪器通常提供较高的精度(约1%左右)，并可以在高频下测试较大的阻抗。
LCR和阻抗测试仪的差别
LCR 测试仪和阻抗分析仪可以使用以上两种方法测量阻抗， 这两种产品之间的差别更多的是功能和显示：
LCR 测试仪 通常采用单一频率进行测量并提供数值。
阻抗分析仪 阻抗分析仪可以不断地切换频率进行测量，并提供频率特性图，也可以执行等效电路分析。
随着信号电感器和功率电感器在智能手机、平板电脑和汽车方面的使用持续增长，最近日置HIOKI更加重视开发阻抗分析仪。为了满足制造商对高速、高稳定性测量能力的需求。日置HIOKI设计出尺寸紧凑，宽频率范围，较高的性价比的产品，使大家可以轻松地利用我们的产品扩大他们现有的生产线。
推荐产品
LCR测试仪IM3536
DC，4Hz~8MHz测量频率
● 测量频率DC，4Hz~8MHz
● 测量时间：最快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中
阻抗分析仪IM3570
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
阻抗分析仪IM7587
可信赖的机型3GHz
● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
