对于辐射发射，使用近场磁性（H场）探头拾取通过探头末端小环路传播的发射。这些磁性探头只能捕获探头附近的信号，因此被称为“近场”探头。这使得它们非常适合基本的可视化，因此工程师可以通过将探头扫过区域快速扫描新的电路板或外壳来查找问题。较大的探头虽能提升扫描速度，但相应的空间分辨率会有所降低。
在此过程中，探头充当天线角色，负责捕获接缝、开口、引脚及其他可能产生RF辐射的元件所释放的信号。为确保测试的全面性，对所有电路元件、连接器、旋钮、箱体开口及接缝的彻底扫描是不可或缺的。通常对于此类EMI可视化测试，无需使用屏蔽室或屏蔽装置，因为探头主要记录的是极为接近的信号。工程师可通过调整探头的方向及位置，来识别发射源。
（天线补偿参数）
内置针对天线，LISN，电缆的频响补偿，可选择对应的天线，用户也可自定义频响补偿。通过OWON的EMI方案可以简便快速预兼容测试，这会最大限度地减少产品开发时间，降低设计成本。
ORF5060 近场探头
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