在光通信行业中,光纤连接器的作用就是将光纤连接起来,使光信号能以最低的损耗在光纤系统中传输。要想光纤连接器介入光通信线路中对系统影响达到最小,就必须保证其质量,因此,光纤连接器的端面几何参数的检测就变得非常重要。
光纤端面干涉仪是一种利用光干涉原理，快速测量光纤连接器插芯端面的光纤高度、曲率半径、顶点偏移等几何参数的非接触式测量仪器，广泛应用于网络光通信领域，是评价和管控光纤连接器质量的重要测量设备。而目前国内对光纤端面干涉仪尚无校准规范。
根据国家质检总局2015年国家计量技术法规制/修订计划，受全国新材料与纳米计量技术委员会的委托，由广州计量检测技术研究院、中国计量科学研究院、深圳维度科技有限公司负责制定《光纤端面干涉仪校准规范》技术规范的工作，各单位主要起草人进行多次讨论，进行了多家国内外生产厂家、多个型号的仪器的实验后对草稿进行不断地修改和完善，在10月完成校准规范的征求意见稿，向全国的计量技术机构、科研院所以及相关的行业企业征求意见。
规范依据:
本规范主要依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编制，JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》、JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑校准规范制定工作的基础性系列规范。
本规范为首次制定，主要技术内容和计量特性参考了GB/T 18311.16-2007《纤维光学互连器和无源器件基本试验和测量程序》的部分内容。
规范的主要内容：
1、按照JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》的要求制定锡膏厚度测量仪校准规范，在内容和格式上与JJF 1071—2010保持一致。校准规范的具体内容有范围、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔等。
2、参考JJF 1306-2011 《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》和JJG 818－2005 《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程》，确定光纤端面干涉仪的4项计量特性，分别为光纤高度示值误差、光纤高度示值重复性、曲率半径、顶点偏移。针对每一校准项目，规定了使用的标准器，并在附录中给出了推荐使用的标准光纤高度块的结构和规格，明确了相应的校准操作。
3、对规范中的技术指标和校准方法均进行了实验验证；依据JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》对仪器光纤高度测量示值误差测量结果的不确定度进行分析，进一步验证了所采用的测量方法合理、可行。
规范的主要技术关键：
1、光纤高度测量示值误差：根据调研，由于光纤陶瓷插芯的光纤高度范围主要集中在，现有光纤端面干涉仪的典型测量光纤高度范围为（-50~150）nm，一般企业使用光纤端面干涉仪时常用的范围为(0~150) μm。与此同时，由于个别大型光通信企业如华为、中兴等对光纤高度有特殊要求，部分光纤端面干涉仪厂家已有光纤高度差接近500nm的产品，甚至有标称可达到1000nm的仪器。目前，大部分厂家的仪器的光纤高度范围是小于500nm，根据现有标准器制备情况，本规范。同时，规范也规定在进行仪器厚度示值误差校准时应依据用户实际的使用范围，在覆盖被校仪器标称的最大光纤高度差的2/3范围内选取3~5种不同高度的标准光纤高度块作为测量点，在每个标准光纤高度块有效区域内，分别在同一测量区域相邻位置处重复测量10次并记录仪器示值，计算算术平均值作为该点位的测量结果，再通过计算与标准光纤高度块的标准高度值的差值得到该点测量示值误差。
